ნახევარგამტარული ანალიზი
-
DB-FIB
სერვისის შესავალი ამჟამად, DB-FIB (Dual Beam Focused Ion Beam) ფართოდ გამოიყენება კვლევებისა და პროდუქტების ინსპექტირებისას ისეთ სფეროებში, როგორიცაა: კერამიკული მასალები, პოლიმერები, მეტალის მასალები, ბიოლოგიური კვლევები, ნახევარგამტარები, გეოლოგიის მომსახურების სფერო, ნახევრადგამტარული/ორგანული ჰიგიენური მასალები, ორგანული პოლიმერული მასალები, მცირე ორგანული მასალები. მასალები, არაორგანული არალითონური მასალები სერვისის წინაპირობა ნახევარგამტარული ელექტრონიკის და ინტეგრირებული მიკროსქემის სწრაფი წინსვლით... -
დესტრუქციული ფიზიკური ანალიზი
ხარისხის თანმიმდევრულობაწარმოების პროცესის შესახებinელექტრონული კომპონენტებიარიანწინაპირობაელექტრონული კომპონენტებისთვის, რომ აკმაყოფილებდეს მათ გამოყენებას და შესაბამის სპეციფიკაციებს. დიდი რაოდენობით ყალბი და განახლებული კომპონენტები იტბორება კომპონენტების მიწოდების ბაზარს, მიდგომასთაროების კომპონენტების ავთენტურობის დასადგენად არის მთავარი პრობლემა, რომელიც აწუხებს კომპონენტის მომხმარებლებს.
-
წარუმატებლობის ანალიზი
საწარმოს R&D ციკლის შემცირებით და წარმოების მასშტაბის ზრდასთან ერთად, კომპანიის პროდუქციის მენეჯმენტი და პროდუქტის კონკურენტუნარიანობა მრავალი ზეწოლის წინაშე დგას შიდა და უცხოური ბაზრებიდან. პროდუქტის მთელი სასიცოცხლო ციკლის განმავლობაში, პროდუქტის ხარისხი გარანტირებულია, ხოლო წარუმატებლობის დაბალი მაჩვენებელი ან თუნდაც ნულოვანი წარუმატებლობა ხდება საწარმოს მნიშვნელოვანი კონკურენტუნარიანობა, მაგრამ ასევე არის გამოწვევა საწარმოს ხარისხის კონტროლისთვის.
